KSA X射線衍射儀零背景樣品架

簡要描述：當(dāng)只有少量樣品材料可用時，零背景支架是理想的解決方案。我們已經(jīng)使用了這些小到0.7毫克的粉末，效果非常好。插入物由以特定方向生長的硅片制成，這樣撞擊表面的x射線就不會衍射到探測器中。這使我們能夠分析這些小體積的樣品，而不會使樣品支架材料本身的特征復(fù)雜化。就好像粉末漂浮在自由的空間里。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2023-09-21
訪問量：2331

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類

Product Category

實驗耗材與配件

Hilgenberg WJM-Glas MicroQuartz Angstrom Hampton Research XRD零背景樣品架玻璃毛細管和細吸管納米金云母和SERS 電極標(biāo)準(zhǔn)反射板

查看全部

相關(guān)文章

詳細介紹

品牌	其他品牌	供貨周期	一個月
應(yīng)用領(lǐng)域	化工,石油,能源,電子/電池

當(dāng)只有少量樣品材料可用時，零背景支架是理想的解決方案。我們已經(jīng)使用了這些小到0.7毫克的粉末，效果非常好。

插入物由以特定方向生長的硅片制成，這樣撞擊表面的x射線就不會衍射到探測器中。這使我們能夠分析這些小體積的樣品，而不會使樣品支架材料本身的特征復(fù)雜化。就好像粉末漂浮在自由的空間里。

所有板材均在KSA內(nèi)部切割。我們受歡迎的尺寸有25、30和32毫米圓形。然而，我們可以根據(jù)需要切割直徑高達75毫米的板材，甚至矩形或其他奇怪的形狀。

選擇不銹鋼主體材料有一些優(yōu)點，但值得注意的是，當(dāng)使用較大孔徑的狹縫時，可以減少20度以下角度的散射2。大多數(shù)儀器將至少部分樣品支架主體以低角度暴露于入射光束，這使得較大的零背景板或不銹鋼主體是有益的。

對于稍大的樣品體積或受益于固定輻照表面積的應(yīng)用，考慮可以研磨到表面的可選井。我們已經(jīng)滿足了深度從0.1到1毫米和直徑從5到20毫米的要求，但最常見的是10x0.5毫米的井。

產(chǎn)品咨詢

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：HighQuant Silver PRO 分散銀納米顆粒
下一篇：Synthesites OptiMold樹脂固化在線監(jiān)測控制系統(tǒng)

KSA X射線衍射儀零背景樣品架

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：